Razendsnelle multibeam elektronenmicroscoop biedt nieuwe mogelijkheden

Marc van Eert, Gerard Rauwerda
Leestijd: 6 minuten

De Fast-EM-elektronenmicroscoop is wel honderd keer sneller dan een reguliere scanning electron microscope. Het geheim: de Fast-EM scant niet met één elektronenbundel, maar met 64 bundels tegelijkertijd. De machine is een revolutie voor de wetenschap en de medische wereld. Maar de Fast-EM is slechts één schakel in de keten. De hoge scansnelheid maakt nieuwe technologie nodig, zowel voor de invoer van samples als voor de uitvoer en opslag van de scandata.

Wetenschappers en artsen bekijken de wereld graag in zo veel mogelijk detail. Elektronenmicroscopen hebben een resolutie die wordt gemeten in nanometers. Dat is maar iets groter dan de kleinste atomen en moleculen. Ter illustratie: een zuurstofmolecuul O2 is ongeveer 0,3 nm groot. Elektronenscans bieden dus een ongekend gedetailleerde blik op de werkelijkheid.

Reguliere scanning electron microscopes (sem) hebben een belangrijk nadeel: een sample scannen met een enkelvoudige elektronenbundel kost veel tijd, soms wel dagen of weken. Die tijd wordt verveelvoudigd wanneer het gaat om een 3D-scan, die wordt samengesteld uit een reeks 2D-scans van een sample dat in extreem dunne plakjes is gesneden. In de praktijk duurt het maken van een 3D-scan daardoor vaak te lang, zeker in medische situaties waar haast geboden is. Bovendien is scantijd kostbaar.

Dit artikel is exclusief voor premium leden van High-Tech Systems Magazine. Al premium lid? Log dan in. Nog geen premium lid? Neem dan een premium lidmaatschap en geniet van alle voordelen.

Inloggen