Nearfield maakt 3D-beelden van innerlijke chip met nanometer-nauwkeurigheid

Alexander Pil
Leestijd: 7 minuten

Nearfield Instruments ontwikkelt een nauwkeurige, niet-destructieve meetoplossing op basis van akoestiek. De metrologie-technologie overtroeft de technieken die momenteel beschikbaar zijn om diep in chips te kijken.

De miniaturisering in chips bezorgt chipfabrikanten steeds meer hoofdbrekens bij het opsporen van fouten in de productie. Een van de uitdagingen is het controleren van de meest cruciale lagen nadat ze zijn gedeponeerd. De huidige chipmetrologie schiet daar tekort. Ze zijn ofwel zeer destructief – na de analyse werkt het ic niet meer. Of de methode is niet nauwkeurig – de meting ligt te ver van het aandachtsgebied.

Tot nu toe gebruiken chipfabrikanten vaak optische technologieën voor het checken van de overlay (de positie-nauwkeurigheid van een laag ten opzichte van de laag eronder). Dat kan met markeringen, maar die zijn vrij groot, typisch 25 bij 25 micrometer. Bij de meer geavanceerde op scatterometrie gebaseerde metrologiesystemen, zoals de Yieldstar van ASML, zijn die markers iets kleiner (5 bij 5 micrometer), maar nog steeds fors in vergelijking met de details op een moderne chip.

Dit artikel is exclusief voor premium leden van High-Tech Systems Magazine. Al premium lid? Log dan in. Nog geen premium lid? Neem dan een premium lidmaatschap en geniet van alle voordelen.

Inloggen

Problemen met inloggen? Bel dan (tijdens kantooruren) naar 024 350 3532 of stuur een e-mail naar info@techwatch.nl.