Mitutoyo verruimt controlemogelijkheden Quick Vision-meetsysteem

Onlangs demonstreerde Mitutoyo een uitbreiding op zijn Quick Vision-familie: optisch meten in combinatie met een wit-licht-interferometer. De Quick Vision-systemen van het Japanse bedrijf zijn ontworpen voor gebruik in metrologische laboratoria en in productomgevingen, waar ze worden ingezet voor automatische controle van middelgrote tot grote series. De oplossing produceert heldere beelden met een goede randdetectie. Een speciale projectiemethode maakt mogelijk om scherp te stellen op oppervlakken met weinig contrast. Ook de hoge aandrijfdynamiek is opvallend. De Quick Vision-serie omvat inmiddels zeventien versies.

Het nieuwe Quick Vision-model Hyper WLI is naast het optisch systeem voorzien van een wit-licht-interferometer, een contactloze sensor die in staat is om in een enkele beweging oppervlakken op te nemen met een zeer hoge resolutie. Zo kunnen microstructuren en -geometrieën op het werkstukoppervlak worden herkend en geëvalueerd. De wit-licht-interferometer zorgt voor een hoge ruimtelijke diepteresolutie. Ook getrapte of zelfs ruwe oppervlakken kunnen daardoor worden gemeten. Bij gladde oppervlakken is een meetnauwkeurigheid in de orde van enkele nanometers mogelijk.