Magallan is Feis paradepaardje in Sem met extreem hoge resolutie

René Raaijmakers
Leestijd: 1 minuut

Fei Company brengt een nieuwe serie extreem hogeresolutie scanning elektronenmicroscopen op de markt. Met deze Magellan-scanning elektronenmicroscopen (Sems) zijn snel driedimensionale oppervlaktebeelden te maken onder verschillende hoeken en op resoluties van minder dan één nanometer.

Fei wijst vooral op de lage bundelenergie die de Magellan XHR Sem nodig heeft. Daardoor dringen elektronen niet in het onderliggende materiaal door en worden vervormingen voorkomen.

Rob Fastenau, algemeen directeur marketing en technologie bij Fei, noemt de de Magellan XHR de belangrijkste innovatie in elektronenoptica sinds Fei drie jaar geleden de Titan-serie transmissiemicroscopen introduceerde. ’Magellan is een klasse apart, net als de Titan en onze Helios NanoLab-serie voor dualbeam systemen.‘

Dit artikel is exclusief voor premium leden van High-Tech Systems Magazine. Al premium lid? Log dan in. Nog geen premium lid? Neem dan een premium lidmaatschap en geniet van alle voordelen.

Inloggen

Problemen met inloggen? Bel dan (tijdens kantooruren) naar 024 350 3532 of stuur een e-mail naar info@techwatch.nl.